目前一些實驗室或者測試機構(gòu)，經(jīng)常用晶硅太陽模擬器作為標準件來測試非晶硅薄膜。那么，如何正確比較不同材料，工藝的太陽模擬器的好壞或者適用性呢？在此，大致描述一下大面積太陽模擬器測試非晶硅薄膜的注意點。

　　

　　太陽模擬器電性能測試方法從原則到具體程序都和單晶硅、多晶硅太陽模擬器電性能測試相同，但必須注意以下幾點區(qū)別，否則可能導(dǎo)致嚴重的測量誤差。

　　

　　一、校準輻照度：

　　

　　應(yīng)選用恰當(dāng)?shù)?、專用于非晶硅太陽模擬器測試的非晶硅標準太陽模擬器來校準輻照度。如果采用單晶硅或者多晶硅太陽模擬器作為標準來校準輻照度，將會得到毫無意義的測試結(jié)果。

　　

　　當(dāng)然，按照光譜失配的理論，如果所選的用的測試光源十分理想。那么，即使用大面積太陽模擬器校準輻照度也能獲得正確的結(jié)果，當(dāng)然，這個在一般生產(chǎn)或者實驗室是很難做到的。

　　

　　二、光源：

　　

　　用于非晶硅電性能測試的太陽模擬器的光源應(yīng)盡可能選用在300納米到800納米波長范圍內(nèi)，光譜特性非常接近AM1.5太陽光譜。

　　

　　三、光譜響應(yīng)：

　　

　　太陽模擬器的光譜響應(yīng)就是當(dāng)某一波長的光照射在電池表面上時，每一光子平均所能收集到的載流子數(shù)。由于用不同材料和工藝制造的太陽模擬器的光譜響應(yīng)差異很大，同時考慮電池的光譜響應(yīng)和光源的光譜分布這兩個因素就能夠得到更好的測量結(jié)果。

　　

　　更進一步來說，多結(jié)薄膜電池中各結(jié)的電流匹配也需要對每結(jié)的光譜響應(yīng)做出精密的測量。大面積太陽模擬器的光譜響應(yīng)特性與所加偏置光及偏置電壓有關(guān)，在非標準條件下進行測試和換算時應(yīng)注意相關(guān)條件。